適用產(chǎn)品范圍：

1）電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件

2）汽車電子電氣零部件

高加速壽命測(cè)試

HALHighly Accelerated Life Test

●HALT試驗(yàn)的目的：

√ 了解產(chǎn)品的設(shè)計(jì)能力及失效模式；

√ 為制定HASS條件提供參考；

√ 快速找出產(chǎn)品設(shè)計(jì)過程的瑕疵；

√ 提高產(chǎn)品的可靠性，減少維修成本；

√ 建立產(chǎn)品設(shè)計(jì)能力數(shù)據(jù)庫，為研發(fā)提供依據(jù)；

√ 縮短設(shè)計(jì)制造周期,快速投放市場(chǎng).

●HALT試驗(yàn)的內(nèi)容：

√ 逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品失效或出現(xiàn)障；

√ 采取改正措施，修正產(chǎn)品的失效或故障；

√ 繼續(xù)逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品再次失效或出現(xiàn)故障，并再次加以修正；

√ 重復(fù)以上應(yīng)力-失效-修正的步驟；

√ 找出產(chǎn)品的操作極限和破壞極限。

●HALT試驗(yàn)的步驟：

√ 低溫步進(jìn)

√ 高溫步進(jìn)

√ 快速溫變

√ 振動(dòng)步進(jìn)

√ 綜合應(yīng)力

高加速應(yīng)力篩選

HASSHighly Accelerated Stress Screen

●HASS試驗(yàn)的目的:

√偵測(cè)并改正設(shè)計(jì)與制程的變更

√減少生產(chǎn)線的時(shí)間及成本

√提生產(chǎn)品質(zhì)量及增加產(chǎn)品可靠度

√減少售后服務(wù)及保修成本

√減少產(chǎn)品上市后的早夭率

√ 100%的全檢

√在最短的時(shí)間內(nèi)篩選出制程中的缺陷和潛在故障

●HASS試驗(yàn)的條件制定:

√ HASS Development 試驗(yàn)計(jì)劃階段

√ Proof-of-Screen 計(jì)劃驗(yàn)證階段

√ Production HASS 執(zhí)行階段

●HASS試驗(yàn)后發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的常見不良點(diǎn):

√ 焊錫品質(zhì)不良

√ 零件差事做故障

√ 零件故障

√ IC彎腳

√ 用錯(cuò)零件

√ 零件位置不正確

高加速應(yīng)力稽核

HASAHighly Accelerated Stress AuditASA高加應(yīng)稽核

該試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品以高加速應(yīng)力測(cè)試，找出產(chǎn)品制程之缺陷并統(tǒng)計(jì)，以維護(hù)產(chǎn)品之品質(zhì)及可靠性。HASA與HASS在內(nèi)容上大致相同，區(qū)別在于篩選是對(duì)所有出廠產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，而稽查則是抽樣測(cè)試,從而也降低了運(yùn)行的成本。

★在產(chǎn)品的研制階段和生產(chǎn)階段應(yīng)用HALT/HASS，可顯著縮短產(chǎn)品的研制周期，提高產(chǎn)品可靠性，增強(qiáng)產(chǎn)品市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。

★在研制階段進(jìn)行的HALT，是發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)薄弱環(huán)節(jié)、確定產(chǎn)品極限應(yīng)力的有效手段，為生產(chǎn)階段進(jìn)行HASS 打下基礎(chǔ)，保障保證產(chǎn)品在高應(yīng)力下的篩選不致造成永久性損傷。